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中电集创(cecjc)合作产品之SPEA飞针测试仪

中电集创(cecjc)合作产品之SPEA飞针测试仪

用于代替手工和针床测试设备,无需花费治具费用,客户可以省掉治具的开发制作,通过编程控制移动探针,来测量电路中的各个需要测量的节点。实现内部电路测试,短路测试,引脚开焊扫描测试,上电测试,功能测试,闪存烧入测试,热量扫描测试等,基本覆盖被测产

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  • 地   址:
    浙江 宁波 奉化区 四明东路299号启迪智能装备(气动)科技园 19号楼
品牌:spea型号:spea01类型:其他IC
用途:飞针测试封装:需求

可替换针床测试机

SPEA飞针测试机能够轻松地代替原有针床的批量性生产;

每小时80片的测试量,每年超过630.000片的测试量,在2.5s内自动在线上下板;

实际数据是以一个连板为基础,包含4块单板,950个节点,700个元器件;

微小pad接触可靠性

探针接触的精准性允许我们的设备能可靠地接触微小的SMD原件,Probe卡的连接PIN,G公/母头连接器(如:背板测试);

最小50um尺寸的pad,能达到10 μm探测的精度;

无需花费治具费用

对于SPEA的飞针测试机,客户可以省掉以下所有相关费用;

治具的开发制作,在产品研发阶段的实验室测试(SPEA飞针是随时准备好可以进行测试)如果有多条生产线则治具倍增;

若产品的layout改变,治具将不得不重新设计,治具维护和周期替换将被节省;

减少市场返修

SPEA 测试机有能力量测在线电路的关键部件的主要参数(如电源器件、传感器器件、传动器件),有效识别不良器件(导致过早损坏)有效减少市场返修;

早期故障发现减少了后续阶段/后制程的经济损失简化了功能测试设备,减少了功能测试时间;

精准的微小SMD植针

微型化不会止步且SPEA的飞针设备已经为未来做足准备。每个X-Y-Z轴上的线性光学编码器使得精准的定位成为可能,该项技术提供了探针实时位置的反馈,

在XYZ 轴上的高性能线性光学编码器微型-SWD(008004)pad 精准接触

灵活/轻薄的印制电路可靠的测试,柔性/电路板长久位置量测的稳定性

高速软着陆技术:无碰触损伤,在PCB及微型-SMD上无压力

测量精度

探针与量测单元间距离越短,量测越***。根据这个显而易见的电路原理,SPEA 设计了一台独特的飞针测试机;

驱动及量测单元被集成放置在每个飞针头上,有效提升了测量速度及性能;

高量测性能及精准度(0.1pF)信号充整性,无量测信号衰减或干扰,实时信号采集;

可视化编程

在几分钟内自动生成测试程序自动生成测试程序,无论有没有CAD文件通过新的S2系统控制使测试程序生成时间减少50%快速,完整的自动调试和优化;

自动维修电路板的软件,自动导入X-Y文件,兼容内置自测(BIST),友好直观的图形界面,可以监控、分析和优化生产过程的控制软件;



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